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GB/T 5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 太陽輻射試驗設(shè)備
  • 資料等級:
  • 授權(quán)方式:資料共享
  • v發(fā)布時間:2012-09-10 09:08:35
  • 資料類型:RAR
  • 資料大。1.16 MB
  • 資料分類:建筑安全
  • 運行環(huán)境:WinXp,Win2003,WinVista,Win ;
  • 解壓密碼:civilcn.com
GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。
本部分適用于對GB/T2424.24《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射》所用試驗設(shè)備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。
本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。
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