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焊接接頭的無(wú)損探傷
  • 資料等級(jí):
  • 授權(quán)方式:資料共享
  • v發(fā)布時(shí)間:2012-02-15 11:34:46
  • 資料類型:RAR
  • 資料大。2.48 MB
  • 資料分類:電氣工程
  • 運(yùn)行環(huán)境:WinXp,Win2003,WinVista,Win ;
  • 解壓密碼:civilcn.com
一、射線探傷
采用X射線或γ射線照射焊接接頭檢查內(nèi)部缺陷的方法。
1. 射線性質(zhì)
(1)不可見(jiàn),以光速直線傳播;
(2)不帶電,不受電場(chǎng)和磁場(chǎng)的影響;
(3)具有可穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中衰減的特性;
(4)可使物質(zhì)電離,能使膠片感光,亦能使某些物質(zhì)產(chǎn)生熒光;
(5)能對(duì)生物細(xì)胞起作用(生物效應(yīng));
射線與物質(zhì)的相互作用
當(dāng)射線穿透物質(zhì)時(shí),由于射線與物質(zhì)的相互作用,將產(chǎn)生一系列極為復(fù)雜的物理過(guò)程,其結(jié)果使射線因吸收和散射而失去一部分能量,強(qiáng)度相應(yīng)減弱,這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減
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