目前,在我國生產(chǎn)的高壓電容器、高壓集合式并聯(lián)電容器、高壓交流濾波電容器中有很大一部分其內(nèi)部的每個元件上都串接有內(nèi)部熔絲,這種帶內(nèi)部熔絲的電容器在實際運行中,當(dāng)有個別不良元件發(fā)生擊穿時,與該元件串聯(lián)的熔絲就會迅速將擊穿元件切除,使整臺電容器仍能在電網(wǎng)中繼續(xù)運行,這是內(nèi)熔絲起的正面作用。
但是,內(nèi)熔絲在動作時還有另一面,那就是在內(nèi)熔絲動作后會在電容器內(nèi)部各個串聯(lián)段上產(chǎn)生持續(xù)工頻過電壓,在設(shè)計和使用電容器時,應(yīng)予以足夠重視,并采取相應(yīng)對策,本文將對內(nèi)熔絲電容器中內(nèi)熔絲動作產(chǎn)生過電壓的機理,過電壓的特征進行定性定量的分析,從中找出其解決辦法,供各位同行和專家參考。
2內(nèi)熔絲動作引起過電壓的機理如圖1所示,高壓內(nèi)熔絲電容器由m個串有內(nèi)熔絲的元件相互并聯(lián)后構(gòu)成一個串聯(lián)段,再根據(jù)電容器額定電壓的高低由n個串聯(lián)段相互串聯(lián)后構(gòu)成的。
大部分高壓全膜并聯(lián)電容器的內(nèi)部,在其出線端之間還并有一個內(nèi)放電電阻,用以釋放當(dāng)電容器從電網(wǎng)中切除后在電容器上的剩余電荷摘自:工變電器。
在高壓內(nèi)熔絲電容器中,其每個元件的電容都是相同的。
所以每個串聯(lián)段的電容為:
Cs=mCy
式中:Cs—串聯(lián)段的電容;
Cy—元件電容;
m—每個串聯(lián)段中元件的并聯(lián)數(shù)
整臺電容器的電容為:
C=Cs/n=mCy/n
式中:C—整臺電容器的電容;
n—電容器中的串聯(lián)段數(shù),n>1
當(dāng)內(nèi)熔絲電容器在運行中因某種原因使其中的一個元件擊穿時,內(nèi)熔絲的動作過程可用圖2表示。
摘自:工變電器可以看到,元件擊穿首先是擊穿元件自身所貯存的電荷向擊穿點G放電,接著與該元件并聯(lián)的同一串聯(lián)段上的元件所貯存的電荷通過與該擊穿元件相串聯(lián)的熔絲向擊穿元件放電,在放電電流的作用下熔絲f迅速熔斷,接著在絕緣油的作用下,,在并聯(lián)元件對擊穿元件的放電過程中迅速將電弧熄滅,將擊穿元件與故障串聯(lián)段中的其它完好元件相隔離。
通過上述分析,使我們熟悉到與擊穿元件相串聯(lián)的熔絲的熔斷主要是靠與該擊穿元件相并聯(lián)的其它完好元件組上貯存的電荷對熔絲放電來實現(xiàn)的。
為了使與擊穿元件相串聯(lián)的熔絲熔斷,故障串聯(lián)段中完好元件組中所貯存的電荷將減少△Q0,在故障串聯(lián)段上的電壓也會下降一個△U,即:
△U=△Q0/
式中:△Q0—在熔絲熔斷的過程中,故障串聯(lián)段中完好元件組釋放的電荷;
Cs-Cy—故障串聯(lián)段中,完好元件組的電容;
△U—故障串聯(lián)段上的電壓降落
這個△U是一個由△Q0引起的直流電壓,因而對其而言系統(tǒng)的阻抗近于零,圖2中的A、B兩端近于短接,其等值電路如圖3所示。
摘自:工變電器在故障串聯(lián)段因失去電荷△Q0而產(chǎn)生電壓降落△U的同時,電容器中的其余串聯(lián)段則通過系統(tǒng)向故障串聯(lián)段充電,最終在故障串聯(lián)段和電容器的其余部分Cs/上都產(chǎn)生了一個直流電壓分量,這兩個直流電壓大小相等,方向相反,所以UAB等于零,但UAO=UBO=U0且
式中:U0—故障串聯(lián)段上的直流電壓分量
由式可以看出,由熔絲熔斷產(chǎn)生的直流電壓U0與熔絲熔斷過程中故障串聯(lián)段上所失去的電荷△Q0成正比,與元件電容Cy成反比,與每個串聯(lián)段中的并聯(lián)元件數(shù)m近似成反比。
在完好串聯(lián)段上的直流電壓分量為:
—其它完好串聯(lián)段上的直流電壓分量。
這樣,我們就可以得到,熔絲動作后,作用在故障串聯(lián)段和其它完好串聯(lián)段上的電壓為:
式中:分別為熔絲將故障元件切除后作用在故障串聯(lián)段和非故障串聯(lián)段上的電壓;
分別為熔絲將故障元件切除后作用在故障串聯(lián)段和非故障串聯(lián)段上的交流電壓分量的幅值;
-U0和U0/分別為熔絲將故障元件切除切后作用在故障串聯(lián)段和非故障串聯(lián)段上的直流電壓分量。
摘自:工變電器中可以看出,熔絲將故障元件切除后,在故障串聯(lián)段上和非故障串聯(lián)段上都受到了交流加直流電壓的作用。
在故障串聯(lián)段上受到的最大電壓降峰值可以達(dá)到-U0,在非故障串聯(lián)段上受到的電壓峰值將達(dá)到U"m+U0/。
對于高壓并聯(lián)電容器通常n≥3,所以,在非故障串聯(lián)段上所受到的電壓峰值相對于故障串聯(lián)段要小些。
國標(biāo)GB11025—1989《并聯(lián)電力電容器用內(nèi)部熔絲和內(nèi)部過壓力隔離器》標(biāo)準(zhǔn)中3.2條隔離要求的規(guī)定和4.2條隔離試驗的規(guī)定,在下元件擊穿時,熔絲應(yīng)能將故障元件斷開,在2.2的上限電壓下試驗時,除了過渡電壓之外,斷開的熔絲兩端的電壓降落不得超過30%,根據(jù)以上規(guī)定,合格的內(nèi)熔絲在下動作時其電壓降落△U可能達(dá)到0.9Um,在2.2下動作時,其電壓降落也可能達(dá)到0.66Um。