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三點(diǎn)彎曲法測定砼斷裂能的尺寸效應(yīng)
  • 資料等級：
  • 授權(quán)方式：資料共享
  • v發(fā)布時(shí)間：2012-12-30 12:19:42
  • 資料類型：RAR
  • 資料大�。�482 KB
  • 資料分類：土木節(jié)能
  • 運(yùn)行環(huán)境：WinXp,Win2003,WinVista,Win ;
  • 解壓密碼：civilcn.com
對常用的三點(diǎn)育曲法測定硅斷裂能的尺寸效應(yīng)進(jìn)行分析, 揭示了隨試件尺寸增大, 測試結(jié)果的正誤差增大或負(fù)誤差減小, 這可能是三點(diǎn)育曲法測試硅斷裂能尺寸效應(yīng)的主要原因之一。
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